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Cassification
電子電器高低溫試驗箱 元器件耐候性測試主要用于檢測電阻、電容、晶體管等電子元器件在高低溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與可靠性,驗證其抗老化、耐溫差、耐潮濕能力。適用于電子電器研發(fā)、生產、質檢等環(huán)節(jié),幫助企業(yè)提前暴露元器件潛在缺陷,優(yōu)化產品設計,確保電子產品在極寒、高溫、高濕等復雜環(huán)境中穩(wěn)定運行。
聯(lián)系電話:0769-81085056
電子電器高低溫試驗箱 元器件耐候性測試
一、產品詳情
電子電器高低溫試驗箱 元器件耐候性測試
三、技術參數(shù)
溫度范圍:-70℃~150℃
溫度波動度:±0.5℃,均勻度 ±2℃
升降溫速率:5℃/min - 15℃/min(可定制)
濕度范圍:20%~98% RH(選配),濕度波動度 ±2% RH
內膽尺寸:500×600×500mm(支持非標定制)
電源:AC380V±10%,50Hz
安全保護:超溫報警、壓縮機過載保護、漏電保護、缺水保護(加濕款)
五、加濕系統(tǒng)(選配)
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聯(lián)系郵箱:1835382008@qq.com
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